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Mal de proyecto : precauciones para archivar el futuro : ensayos de teoría de la arquitectura / José Solís Opazo.

Author:
Solís Opazo, José [Browse]
Format:
Book
Language:
English
Published/​Created:
Santiago, Chile : LOM Ediciones, 2016.
Εdition:
Primera edición.
Description:
182 pages : illustrations ; 24 cm
Series:
Bibliographic references:
Includes bibliographical references (page 177-182).
Language(s):
In Spanish.
Contents:
El entusiasmo situacionista -- Teoría de la vanguardia: autocrítica y cotidianidad -- Dimensiones de la autocrítica: el Situacionismo Internacional -- Arquitectura, postmodernidad y situacionismo -- La derrota de lo cotidiano -- Vida cotidiana y totalidad -- Vida cotidiana y apertura -- Arquitectura y "derrota de lo cotidiano" -- Ideaología neoliberal del Santiago postmetropolitano -- Mal de proyecto -- Epílogo.
Subject(s):
Form/​Genre:
History.
ISBN:
  • 9789560008619 (paperback)
  • 9560008617 (paperback)
OCLC:
990322813
RCP:
N - O